15601689581
当前位置:主页 > 技术文章
产品目录

Product catalog

  • 2023
    4.27

    Up to 98%光利用率—镀介质镜型纯相位高速高损伤阈值SLM!

    Upto98%光利用率——镀介质镜型纯相位高速高损伤阈值SLM!液晶空间光调制器(SLM)可以将数字化数据转换为适合各种应用的相干光学信息,包括双光子/三光子显微成像、光镊、自适应光学、湍流模拟、光计算、光遗传学和散射介质成像等应用。这些应用需要能够轻松快速地改变相干光束波前的调制器。通过将液晶材料的电光性能特征与基于硅的数字电路相结合,MeadowlarkOptics现在提供了高分辨率的SLM,这些SLM还具有物理紧凑性和高光学xiao率。图一:紧凑的HSP1K(1024×...

    查看全文
  • 2023
    4.17

    膜厚测量仪的应用场景

    膜厚测量仪主要采用了X射线荧光光谱技术(XRF技术),通过发射出的X射线来对材料内部的分子结构进行分析,从而得到材料的厚度和组成。X射线通过材料后,与材料中的元素反应并产生荧光信号,该荧光信号的波长和强度反映了样品中的元素种类和含量。通过这种方式来测量薄膜的厚度以及成分。应用场景:1、半导体加工在半导体制造业中,不同工艺步骤所涉及的膜厚以及成分都不同,需要采用高灵敏度的仪器来进行检测。膜厚测量仪能够精确测量超薄膜,对后续工序制定提供参考。2、金属材料检测在金属材料制造业中,需...

    查看全文
  • 2023
    4.13

    膜厚测量仪在多个行业中都有着广泛的应用

    膜厚测量仪是一种广泛应用于材料科学和工业生产中的精密测量设备。膜厚测量仪的主要作用是通过利用特定实验方法和设备对薄膜进行精确测量。膜厚测量仪可以广泛应用于多个领域,如电子、照明、建筑、半导体、光学、制药、航空等。1.电子行业在电子行业中,膜厚测量仪被广泛应用于半导体、面板显示器、光学存储器、光电元件等制造产业中。通过利用膜厚测量仪可以帮助生产商更好地掌握产品的质量和性能特征,提高产业的竞争力。2.照明行业在照明行业中,膜厚测量仪的主要应用是帮助测量光伏电池的光电转化率,以及测...

    查看全文
  • 2023
    4.11

    无人机载高光谱遥感使作物表型检测更加高效

    无人机载高光谱遥感使作物表型检测更加高效粮食短缺、人口增长和全球气候变化推动了提高作物产量的研究。田间作物表型能为作物生长及其与环境的关系提供了重要信息。然而,传统的车载平台用于田间试验采样和作物性状参数的确定费时费力,且空间覆盖范围有限。这限制了作物科学研究的快速发展。以无人机(UAV)为代表的高通量近地遥感表型平台灵活、成本低、空间覆盖广,已成为获取田间表型信息的有效途径。(利用光谱数据评估植物表型特征)将specimAFX10高光谱成像相机集成到无人机上,用于评估中国北...

    查看全文
  • 2023
    4.11

    光放大器在光纤领域的应用

    光放大技术是指不需要进行光—电—光的转换,直接对光信号进行实时、在线、透明放大的技术。其核心器件为光放大器,它是一种全光放大器,主要由增益介质、输入输出结构等构成,其作用是增强光信号的功率,放大输入的弱光信号。在光纤通信技术中,由传统的光电混合中继放大器到纯光放大器是一个重大的飞跃。这意味着光电中继器中由于电子响应速度和宽带限制所带来的“电子瓶颈”的影响将不复存在,利用原有的系统进行高速率信号传输将成为现实。同时,它也使得光通信系统中波分复用技术和密集波分复用技术的实现成为可...

    查看全文
  • 2023
    4.10

    利用高光谱成像评估水果和蔬菜的成熟度和老化

    利用高光谱成像评估水果和蔬菜的成熟度和老化监测和控制食品质量对于追求利润和负责任的食品生产至关重要。特别是对于水果和蔬菜来说,它们比其他食品更加敏感,必须新鲜出售和加工才能更加有价值和更加健康。高光谱成像为自动质量控制系统提供了重要的数据,以确保食品的高质量。用specimFX10高光谱相机测量李子和番茄的老化食品的生长天数是评价食品新鲜程度时需要量化的一个重要参数。在这样的背景下,水果和蔬菜的成熟度和硬度是需要观察和监测的两个最基本的参数。高光谱相机可以观察水果和蔬菜在整个...

    查看全文
  • 2023
    4.10

    膜厚测量仪的应用与优势

    概述:膜厚测量仪是一种用于测量材料薄膜厚度的仪器。本文将详细介绍膜厚测量仪的应用领域、优势及其在相应领域中的具体应用。应用领域:1.微电子器件制造在微电子器件的制造领域具有重要的应用。在电子器件的制造过程中,需要进行多层薄膜与特殊材料的沉积和加工,精确的膜厚度测量对于保证器件性能和可靠性至关重要。膜厚测量仪可以对薄膜进行高精度的测量和控制,提高了晶圆和芯片的制备效率。2.材料科学研究在材料科学研究领域中也得到了广泛的应用。材料的薄膜厚度是材料性能的一个重要因素,膜厚测量仪是研...

    查看全文
  • 2023
    4.7

    X射线的无损检测技术

    X射线的无损检测技术一.前言无损检测方法是利用声、光、电、热、磁及射线等与被测物质的相互作用,在不破坏和损伤被测物质的结构和性能的前提下,检测材料、构件或设备中存在的内外部缺陷,并能确定缺陷的大小、形状和位置。无损检测的技术有很多,包括:染料渗透检测法、超声波检测法、强型光学检测法、渗透检测法﹑声发射检测法,以及本文介绍的x射线检测法。X射线无损测试是工业无损检测的主要方法之一,是保证焊接质量的重要技术,其检测结果己作为焊缝缺陷分析和质量评定的重要判定依据,应用十分广泛。胶片...

    查看全文
共 370 条记录,当前 18 / 47 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

昊量微信在线客服

昊量微信在线客服

版权所有 © 2024上海昊量光电设备有限公司 备案号:沪ICP备08102787号-3 技术支持:化工仪器网 管理登陆 Sitemap.xml