激光测量设备-上海昊量光电设备有限公司

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激光测量设备

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高性价比干涉式激光尺
高性价比干涉式激光尺摒弃了传统激光干涉仪的分立光学器件结构，将激光器、调制器、光电探测器和滤波器等众多光学元件集成至单一光学芯片上，并与激光二极管、探测器阵列和光学透镜结合，形成小型化的激光传感模组。

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H9/H9M 白光干涉表面轮廓仪
Heliotis H9/H9M 均为工业级白光干涉（WLI）3D 表面轮廓仪，基于低相干宽带光在零光程差附近形成高对比度条纹，通过 Z 轴扫描与像素级相干峰 / 相位解包裹重构 3D 形貌，实现非接触、纳米级精度测量。H9/H9M 白光干涉表面轮廓仪

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IQFROG超短脉冲分析仪
IQFROG超短脉冲分析仪（高灵敏性，光纤耦合输入）是基于频率分辨光学开关技术（FROG）实现对脉冲激光在时域和频域的强度和相位测量，从而实现对脉冲激光信号的精确表征。IQFROG超短脉冲测量仪配有大形成电动延时平台和高分辨率光谱仪，可实现up to 50ps脉宽的啁啾脉冲测量;对于傅里叶极限脉宽，其脉宽可测范围能覆盖0.3-10ps。

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TopMap Micro.View 白光干涉仪（3D形貌仪）
Polytec GmbH提供完整的光学表面计量解决方案，用于工程表面质量检测和形状评估 - 无论是数控加工精密零件的平面度或台阶高度、光滑光学元件的翘曲和形状，还是纹理、光洁度或 MEMS 和微结构分析。TopMap Micro.View 白光干涉仪（3D形貌仪）

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TopMap Metro.Lab 白光干涉仪（3D形貌仪）
Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款高精度白光干涉仪（相干扫描干涉仪），以其大垂直测量范围与纳米级分辨率脱颖而出。这一特性，使得 Metro.Lab 形貌测量系统在针对大面积表面及结构的平面度、台阶高度和平行度进行非接触式测量时表现好，哪怕面对柔软娇贵、极易受损的材料，也能精准探测，毫无压力。TopMap Metro.Lab 白光干涉仪（3D形貌仪）

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新一代便携式色彩测量仪（测色仪）
一般的便携式色彩测量仪器通常能满足大多数要求，但其性能往往参次不齐。独立式分光光度仪已成为昨日黄花，既无法您进入色彩测量的未来，也不能确保质量，但全新新一代便携式色彩测量仪（测色仪）的亮相令人为之侧目。

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SIOS双光束激光干涉仪SP 5000 DS
SIOS双光束激光干涉仪SP 5000 DS用于需要同时获取运动角度和长度信息的测量任务。该干涉仪的测量原理基于 SP 5000 NG 测量设备。两个测量激光束使用同一频率的共用激光器的光。两个测量光束之间的间距经过高精度校准。测量光束之间的平行度至关重要。

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表面增强拉曼散射SERS衬底/基底
昊量光电新推出用于超灵敏分子检测用的表面增强拉曼散射SERS衬底/基底SERStrate ，实现低至 pm浓度的超灵敏分子检测。能够对从生命科学到军事应用的各种分子进行痕量检测。大多数器件制造技术涉及聚合物掩膜沉积（某种形式的光刻）或复杂的化学，这大大增加了器件制造成本。

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447nm/671nm/1342nm 纳秒脉冲固体激光器
447nm/671nm/1342nm 纳秒脉冲固体激光器，IDOL 系列产生特殊的1342nm 波长及其倍频（671nm）、三倍频（447nm），其中1342nm 特别适合硅材料处理如隐形划片、集成电路修剪，而671nm、447nm则在显示平板修补领域有广泛应用。

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213/224 深紫外纳秒激光器（IMPRESS 系列）
213/224 深紫外纳秒激光器（IMPRESS 系列），可用于FBG 刻蚀、钻石及蓝宝石打标加工等应用，213nm 波长及TEM00 模式使它可以用于小于微米的直写加工。

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193nmDUV深紫外单纵模固体激光器
193nmDUV深紫外单纵模固体激光器，光谱带宽接近其理论傅立叶极限。该193nm激光器的中心波长可在185和194 nm之间的范围内定制，订购时可配置为固定波长。

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VFI 光纤端面干涉仪
VFI 光纤端面干涉仪可测量大多数标准和特种光纤，包括保偏光纤和空芯光纤。VFI 光纤端面干涉仪在研究、生产和质量保证领域已得到反复验证。

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