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SID4-V真空兼容波前分析仪
SID4-V真空兼容波前分析仪

SID4-V真空兼容波前分析仪 法国Phasics创造性的推出了市面上首款真空兼容的高分辨率波前分析仪SID4-V。SID4-V波前传感器的独特设计使其可在真空环境下(10-6mbar)实现激光波前/激光等离子体/电子密度等的测量,获得更准确的测量结果。

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实时测量自相关仪FR-103kHz
实时测量自相关仪FR-103kHz

实时测量自相关仪FR-103kHz FemtoChrome实时探测自相关仪FR-103kHz基于其创新性的微分延迟配置,特别适用于测量kHz频率的放大器脉冲,能够实现实时测量。

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自相关仪FR-103TPM-双光子显微专用
自相关仪FR-103TPM-双光子显微专用

自相关仪FR-103TPM-双光子显微专用 FemtoChrome自相关仪FR-103TPM是一款双光子显微专用的高分辨率,易于使用的自相关仪。它可以和探测器打包代替样品,从而引入光路中而不影响对准。

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Vcsel激光器光束在线测量系统,3D人脸识别
Vcsel激光器光束在线测量系统,3D人脸识别

Vcsel激光器光束在线测量系统,3D人脸识别,CinCamCMOS-1.001-NanoPlusX-M在线测量系统为德国CINOGY专用为Vcsel激光器发散角、光斑尺寸、功率等参数测量设计生产的在线测量系统,该系统为全自动的在线测量系统。目前我们主要的客户有为Apple手机3D人脸识别代工的深圳意法半导体(STMicroelectronics)等。

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MFIA阻抗分析仪
MFIA阻抗分析仪

ZurichInstrumentsMFIA是一款数字阻抗分析仪和精密LCR测试仪,在DC至500kHz/5MHz频率范围内树立了新的业内标杆。MFIA阻抗测试的基本精度可达0.05%,测量范围为1mΩ至1TΩ,并且具有极高的测量重复性以及低的温漂。通过LabOne®用户界面,MFIA可为阻抗和LCR测量提供众多备受期待的创新功能,而无需安装任何软件。

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通讯波段偏振消光比测量仪
通讯波段偏振消光比测量仪

该消光比测试仪PEM-330采用技术制造,可实现1260~1630nm全波段测量。只需更换测试光源,无需购买多台消光比测试仪,即可实现不同波段器件的精确测量,一机多用大大降低了仪器购置成本。该消光比测试仪具有极高的消光比测试精度、偏振角测试精度,能够测量高达50dB的消光比。并且配备了GPIB及RS-232C接口,适用于偏振光轴调整的光学元器件装配及保偏光纤熔接的质量控制及检测等领域。

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