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产品目录

Product catalog

  • 2025
    4.23

    膜厚测量仪:工业检测的得力助手

    工业生产迈向精细化与高质量的时代,产品质量把控成为企业立足市场的关键。而膜厚测量仪,凭借其精准高效的特性,已然成为工业检测领域中重要的得力助手,在众多行业发挥着重要作用。在制造业中,膜厚测量仪是品质保障的“守护者”。以汽车制造为例,车身的涂层厚度不仅影响着车辆外观的美观度,更直接关系到其防腐蚀性能。若涂层过薄,车身容易受到外界环境的侵蚀,缩短使用寿命;涂层过厚,则可能导致涂层开裂、脱落,同样影响车辆质量。膜厚仪能够快速、准确地测量出车身各部位涂层的厚度,让生产人员及时发现并调...

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  • 2025
    4.21

    用二次谐波色散扫描表征超短激光脉冲

    用二次谐波色散扫描表征超短激光脉冲(本文译自CharacterizingultrashortlaserpulseswithsecondharmonicdISPersionscans,IvanSytcevich,ChenGuo,SaraMikaelsson,JanVogelsang,Anne-LiseViotti,BenjamínAlonso,RosaRomero,PauloT.Guerreiro,AnneL’Huillier,HelderCrespo,MiguelMirand...

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  • 2025
    4.21

    如何选择和使用飞秒脉冲测量和压缩器d-scan系列产品

    如何选择和使用飞秒脉冲测量和压缩器d-scan系列产品本简易指南为您提供了关于如何使用飞秒脉冲测量和压缩器d-scan系列产品及如何选择型号以匹配您的应用和激光源的指导。我们的产品间的区别是什么?我们所有的产品都是基于色散扫描技术。每个产品都测量激光的SHG光谱作为色散的函数,并反演激光脉冲的光谱相位。产品之间的主要区别在于测量类型(扫描或单发),可以测量的z短/z长脉冲,以及系统是否也可以同时压缩脉冲。下表总结了我们三个激光应用产品系列之间的主要区别。对于双光子显微镜应用,...

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  • 2025
    4.15

    高功率激光功率计的类型及特点

    随着激光技术在工业制造、医疗健康、科研实验及光纤通信等领域的广泛应用,高功率激光功率计作为激光系统中的关键测量设备,其重要性日益凸显。它能够精确测量激光的功率,为激光系统的优化、性能评估及故障诊断提供重要依据。本文将从高功率激光功率计的原理出发,深入探讨其不同类型、应用领域及使用要点。(一)光电型光电型激光功率计探头是通过光电二极管,直接将光能转换为电流或电压信号以表征激光功率的大小。光电二极管传感器的核心部分是PN结,光电二极管实际上是加了一个反向偏压的PN结,当反向偏压足...

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  • 2025
    4.14

    调Q纳秒激光器在生物成像领域-光声成像方面的应用

    调Q纳秒激光器在生物成像领域-光声成像方面的应用在过去几十年里,一种被称为光声成像(OAI)或光声成像(PAI)的新型生物医学成像模式正从实验室走向临床应用。PAI能够提供结构、血流动力学、功能、氧代谢、基因表达、生物标志物、分子等方面的信息。光声成像(PAI)是一种新兴的成像方式,用于临床和生物医学研究领域。PAI系统使用传统Q开关的Nd:YAG/OPO(光学参量振荡器)纳秒激光器作为激发源。这些激光器价格昂贵、体积庞大,脉冲重复率低,成像速度有限。在使用中光声激发脉冲的持...

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  • 2025
    4.14

    D7点衍射激光干涉仪用于测量介观显微物镜的检测方案

    D7点衍射激光干涉仪用于测量介观显微物镜的检测方案介观物镜,因其具有复杂的光学结构和出色的像差优化,可以实现高NA和超大成像FOV,显著提高光学显微镜成像通量的特点而被人们熟知。介观显微物镜可用于广域成像系统、激光共焦扫描成像系统和双光子成像等系统,具有重要的研究意义。本文介绍了一种用D7点衍射激光干涉仪测量介观显微物镜的检测方案,具体方案如下图所示:1.光源部分1.D7系统的光源为连续波(CW)单模(SLM)激光器:具有不同波长的相干性,覆盖了激光器的工作光谱范围包括:48...

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  • 2025
    4.7

    空间光调制器(SLM)在大规模可编程量子模拟器中的应用

    空间光调制器(SLM)在大规模可编程量子模拟器中的应用摘要:近年来,量子计算的快速发展正在为人类揭示复杂量子系统的物理规律提供的工具。可编程量子模拟器作为量子计算领域的重要成果,为探索量子现象和解决复杂问题提供了新的途径。空间光调制器(Spatiallightmodulator,SLM)凭借其动态调控光场相位、振幅和偏振的能力,逐渐成为量子模拟器中的核心元件。SLM主要用于对量子比特进行操控和编码,为光镊阵列、冷原子操控以及光子量子态调控提供了灵活性。什么是大规模可编程量子模...

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  • 2025
    4.7

    相位偏折术/PDM/偏折测量(Deflectometry)技术简介

    相位偏折术/PDM/偏折测量(Deflectometry)技术简介摘要:偏折测量技术(PDM)又称为相位偏折术或条纹反射法,是一种非接触式、低成本、高鲁棒性且高精度的面形测量技术,绝对检测精度可达10-20nmRMS,可以用于平面、球面、非球面、离轴抛物面、自由曲面等面型的高精度检测。具有测量角度大、非接触、精度高、速度快等特点。偏折测量系统构成:相位偏折测量系统主要由ccd相机、LCD显示屏和待测件三个部分组成,系统配置如下图。LCD显示屏投射提前生成好的结构光正弦条纹,正...

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