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点衍射干涉仪的精度检验方法点衍射干涉仪（PointDiffractionInterferometer，PDI）是一种基于衍射干涉原理的光学测量设备。它利用激光束小孔后产生接近理想的点光源对物体表面进行测量，可以实现对物体形状、表面粗糙度、折射率等参数的高精度测量。点衍射干涉仪不需要标准参考件，可以用于超高精度面型的检测，是一种非常重要的高精度测量仪器。1.1测试光路测试系统主要由D7点衍射干涉仪主机，准直器，5mm口径铝镜，光学平台等构成。1.2测试环境温度：21℃&plus...
查看全文非接触式金属膜厚测量仪是一种常见的表面分析仪器，其原理基于光学干涉或者电磁感应等技术。相比于传统的划痕法和化学分析法，非接触式金属膜厚测量仪具有高精度、快速和不破坏测试样品等优点，广泛应用于材料科学、电子工程、光学制造等领域。原理是利用光学干涉原理或电磁感应原理来测定薄膜的厚度。其中，光学干涉法是通过反射光线之间的干涉来测量薄膜的厚度，而电磁感应法则是依靠磁场的变化来检测薄膜的存在和厚度。这些原理都是建立在测量薄膜对光线或磁场的影响上，通过实时监测信号变化来计算出薄膜的厚度。...
查看全文Upto98%光利用率——镀介质镜型纯相位高速高损伤阈值SLM！液晶空间光调制器（SLM）可以将数字化数据转换为适合各种应用的相干光学信息，包括双光子/三光子显微成像、光镊、自适应光学、湍流模拟、光计算、光遗传学和散射介质成像等应用。这些应用需要能够轻松快速地改变相干光束波前的调制器。通过将液晶材料的电光性能特征与基于硅的数字电路相结合，MeadowlarkOptics现在提供了高分辨率的SLM，这些SLM还具有物理紧凑性和高光学xiao率。图一：紧凑的HSP1K（1024×...
查看全文膜厚测量仪主要采用了X射线荧光光谱技术（XRF技术），通过发射出的X射线来对材料内部的分子结构进行分析，从而得到材料的厚度和组成。X射线通过材料后，与材料中的元素反应并产生荧光信号，该荧光信号的波长和强度反映了样品中的元素种类和含量。通过这种方式来测量薄膜的厚度以及成分。应用场景：1、半导体加工在半导体制造业中，不同工艺步骤所涉及的膜厚以及成分都不同，需要采用高灵敏度的仪器来进行检测。膜厚测量仪能够精确测量超薄膜，对后续工序制定提供参考。2、金属材料检测在金属材料制造业中，需...
查看全文膜厚测量仪是一种广泛应用于材料科学和工业生产中的精密测量设备。膜厚测量仪的主要作用是通过利用特定实验方法和设备对薄膜进行精确测量。膜厚测量仪可以广泛应用于多个领域，如电子、照明、建筑、半导体、光学、制药、航空等。1.电子行业在电子行业中，膜厚测量仪被广泛应用于半导体、面板显示器、光学存储器、光电元件等制造产业中。通过利用膜厚测量仪可以帮助生产商更好地掌握产品的质量和性能特征，提高产业的竞争力。2.照明行业在照明行业中，膜厚测量仪的主要应用是帮助测量光伏电池的光电转化率，以及测...
查看全文无人机载高光谱遥感使作物表型检测更加高效粮食短缺、人口增长和全球气候变化推动了提高作物产量的研究。田间作物表型能为作物生长及其与环境的关系提供了重要信息。然而，传统的车载平台用于田间试验采样和作物性状参数的确定费时费力，且空间覆盖范围有限。这限制了作物科学研究的快速发展。以无人机(UAV)为代表的高通量近地遥感表型平台灵活、成本低、空间覆盖广，已成为获取田间表型信息的有效途径。（利用光谱数据评估植物表型特征）将specimAFX10高光谱成像相机集成到无人机上，用于评估中国北...
查看全文光放大技术是指不需要进行光—电—光的转换，直接对光信号进行实时、在线、透明放大的技术。其核心器件为光放大器，它是一种全光放大器，主要由增益介质、输入输出结构等构成，其作用是增强光信号的功率，放大输入的弱光信号。在光纤通信技术中，由传统的光电混合中继放大器到纯光放大器是一个重大的飞跃。这意味着光电中继器中由于电子响应速度和宽带限制所带来的“电子瓶颈”的影响将不复存在，利用原有的系统进行高速率信号传输将成为现实。同时，它也使得光通信...
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