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微偏振片阵列
微偏振片阵列

微偏振片阵列采用纳米线加工工艺制作而成,可用于偏振成像,通过偏振以获取更多的细节信息。波长范围可覆盖可见到近红外,透过率高,特别适合低光强条件下成像。

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定量双折射成像系统
定量双折射成像系统

CRI的Abrio成像系统提供了一种独特的方法来测量和分析样品中的微小量级双折射。用偏振光测量双折射率的空间分布的传统方法繁琐且耗时。Abrio技术通过自动化定量极化显微镜的过程,打开了双折射成像世界的大门,允许你精确地计算出每一个像素在几秒内的延迟幅度和方向

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光腔衰荡光谱测量系统
光腔衰荡光谱测量系统

光腔衰荡光谱方法(CRDS,CavityRing-DownSpectroscopy)是一种基于高精细度谐振腔的高灵敏度探测技术,主要用于精确测量各种反射率大于99%的超高反射率反射镜的反射率,测量精度可达百万分之一量级!

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中红外线栅偏振片(3um-6um)
中红外线栅偏振片(3um-6um)

中红外线栅偏振片(3um-6um)是一款高质量的偏振片,波长范围覆盖3um-6um波段,消光比10,000:1,且采用镀有增透膜的硅作为基底材料,从而使该中红外线栅偏振片透过率90%。

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超大口径偏振片
超大口径偏振片

超大口径偏振片(金属线栅偏振片)提供了损伤阈值高、宽带宽和超大口径的偏振解决方案,可提供325-450nm,450-1000nm,1000-2000nm三种工作波长范围,在此基础上可提供1mm-200mm的通光口径和10KW/cm2,CW,1540nm的损伤阈值,在200℃的工作温度下,仍可以提供和二向色性偏振片一样的性能。

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