干涉仪-上海昊量光电设备有限公司

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激光测量设备

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高性价比干涉式激光尺
高性价比干涉式激光尺摒弃了传统激光干涉仪的分立光学器件结构，将激光器、调制器、光电探测器和滤波器等众多光学元件集成至单一光学芯片上，并与激光二极管、探测器阵列和光学透镜结合，形成小型化的激光传感模组。

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H9/H9M 白光干涉表面轮廓仪
Heliotis H9/H9M 均为工业级白光干涉（WLI）3D 表面轮廓仪，基于低相干宽带光在零光程差附近形成高对比度条纹，通过 Z 轴扫描与像素级相干峰 / 相位解包裹重构 3D 形貌，实现非接触、纳米级精度测量。H9/H9M 白光干涉表面轮廓仪

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TopMap Micro.View 白光干涉仪（3D形貌仪）
Polytec GmbH提供完整的光学表面计量解决方案，用于工程表面质量检测和形状评估 - 无论是数控加工精密零件的平面度或台阶高度、光滑光学元件的翘曲和形状，还是纹理、光洁度或 MEMS 和微结构分析。TopMap Micro.View 白光干涉仪（3D形貌仪）

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TopMap Metro.Lab 白光干涉仪（3D形貌仪）
Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款高精度白光干涉仪（相干扫描干涉仪），以其大垂直测量范围与纳米级分辨率脱颖而出。这一特性，使得 Metro.Lab 形貌测量系统在针对大面积表面及结构的平面度、台阶高度和平行度进行非接触式测量时表现好，哪怕面对柔软娇贵、极易受损的材料，也能精准探测，毫无压力。TopMap Metro.Lab 白光干涉仪（3D形貌仪）

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SIOS双光束激光干涉仪SP 5000 DS
SIOS双光束激光干涉仪SP 5000 DS用于需要同时获取运动角度和长度信息的测量任务。该干涉仪的测量原理基于 SP 5000 NG 测量设备。两个测量激光束使用同一频率的共用激光器的光。两个测量光束之间的间距经过高精度校准。测量光束之间的平行度至关重要。

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VFI 光纤端面干涉仪
VFI 光纤端面干涉仪可测量大多数标准和特种光纤，包括保偏光纤和空芯光纤。VFI 光纤端面干涉仪在研究、生产和质量保证领域已得到反复验证。

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双频激光干涉仪
双频激光干涉仪HPI-3D是市场上的高性能激光干涉仪之一。作为双频外差系统，它的测量精度和分辨率为用户提供了大量新的选择。非常容易使用，它既可以应用于研究实验室，也可以用于机器几何测量。精确的机器校准对于提供高质量的产品至关重要。使用我们的系统，您可以快速、轻松地进行精确的校准。基本配置能够进行线性位移、振动、速度和定位的测量。

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直接激光干涉图形加工器
直接激光干涉图形加工器可以利用脉冲激光简便地、高速地在大范围区域形成周期性几何形状从而直接烧蚀材料表面。

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激光剪切散斑干涉系统——NDT无损检测
激光剪切散斑干涉系统——NDT无损检测是所有的光学模组和激光器集成在一个手持式，耐用和轻便的机壳中，接通电源，通过USB连接到电脑，就可以开始检测了。

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光纤法布里-珀luo干涉仪
光纤法布里-珀luo干涉仪系列产品基于具有平滑、均匀间隔传输峰的固定干涉仪设计。FFP 的设计简洁优雅的关键在于其无透镜全光纤结构。没有准直光学器件或透镜，消除了其他法布里-珀罗元件技术的缺陷，包括未对准、环境敏感性和外来模式。FFP 波器遵循 Airy 函数。工程师可以将其设计到 OEM 系统中，因为他们知道它将提供非常接近理论数学模型的结果。

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皮米级绝对距离测量干涉仪
皮米级绝对距离测量干涉仪通过将可调激光器的频率锁定到F-P干涉仪的的谐振频率上，将干涉仪的位移测量转换为频率变化的测量。当F-P腔长在变化时，其谐振峰的频率也在发生变化，通过测量初始腔长，初始频率和频率变化，就可实现测量腔长。

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多波长动态干涉仪
Kaleo MultiWAVE多波长动态干涉仪同时可提供媲美Fizeau干涉仪测量精度，及动态干涉仪的抗震性能。

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