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产品目录

Product catalog

  • 昊量光电/星朗浩宇五轴光学测试系统
    昊量光电/星朗浩宇五轴光学测试系统
    搭载PR专业级光谱辐射度计的五轴光学测试系统,满足实验室研发和量产产线测试需求!系统支持平面屏、曲面屏和折叠屏的亮度、色度、均匀度及视角分布测量,可自动生成分析报表。昊量光电/星朗浩宇五轴光学测试系统
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 昊量光电/星朗浩宇自动三轴光学测试系统
    昊量光电/星朗浩宇自动三轴光学测试系统
    搭载PR专业级光谱辐射度计的自动三轴光学测试系统,满足实验室和量产快速测试需求!系统集成XYZ精密伺服运动、CCD视觉对位和专用软件,可完成显示屏光学参数、均匀度和暖机时间测量,并生成数据报表。昊量光电/星朗浩宇自动三轴光学测试系统
    型号:    厂商性质:代理商
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  • ELWIMAT昊量光电/星朗浩宇楔形角度测量仪
    ELWIMAT昊量光电/星朗浩宇楔形角度测量仪
    昊量光电/星朗浩宇楔形角度测量仪- Min. 0.0001°,光学元件的楔形角测量(0.0001°至6°),兼容反射和透射测量,自动评估楔形角,HOFBAUER Optik的-楔形楔角测量设备是光学生产计量中精确楔形角测量和平行度测试的理想解决方案。
    型号:ELWIMAT    厂商性质:代理商
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  • 昊量/星朗手持式金属厚度光电测试仪
    昊量/星朗手持式金属厚度光电测试仪
    昊量/星朗手持式金属厚度光电测试仪是一款非接触测量方块电阻,高速,高精度,低备样需求的便携式测试设备。该产品可用于导电薄膜、薄金属层和金属方块电阻测量等材料分析应用。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • VR_MR测试系统AL-6100-VR140(L)
    VR_MR测试系统AL-6100-VR140(L)
    VR_MR测试系统AL-6100-VR140(L),可以搭配Aunion Tech的高分辨率成像式亮度色度计,通过6100万或1亿像素的高分辨率不仅实现了对NED产品的大视野测量,PPD(pixel per degree)达到70像素/度。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 叠层太阳能电池测试系统(太阳光模拟器)
    叠层太阳能电池测试系统(太阳光模拟器)
    叠层太阳能电池测试系统(太阳光模拟器),内置光谱仪和强度传感器与校准程序相结合,使重新校准非常简单。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • AUT-XperP-Projector无掩膜智能投影光电流系统
    AUT-XperP-Projector无掩膜智能投影光电流系统
    无掩膜智能投影光电流系统AUT-XperP-Projector,高频灰度实现线性可调的同时可以快速切换长度,来对整个阵列的所有器件进行激发。
    型号:AUT-XperP-Projector    厂商性质:代理商
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  • 同步源测系统RTM2-制样无需复杂光刻
    同步源测系统RTM2-制样无需复杂光刻
    同步源测系统RTM2-制样无需复杂光刻专为自动精密测量电阻和相关量而设计。半导体参数分析仪RTM2将直流和交流测量与集成开关矩阵结合在一起。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 锥形光纤探针扫描系统
    锥形光纤探针扫描系统
    锥形光纤探针扫描系统GalvoStation是一种单通道光电激光设备,锥形光纤探针 扫描系统设计用于使用Lambda Fibers进行空间选择性光传输和收集。GalvoStation允许将Lambda光纤发出的光限制在其有效长度的子位置。
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  • 半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统
    半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统
    半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统利用半导体参数分析仪RTM2的集成开关矩阵实现无限的精度和稳定性用于片状、霍尔和电阻张量的测量。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)
    时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)
    我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数,薄膜测量厚度可达纳米量级!在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。 时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)
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  • FLIM高效率荧光寿命成像系统
    FLIM高效率荧光寿命成像系统
    高效率荧光寿命成像系统或FLIM是基于荧光样品中不同区域的荧光的指数衰减速率的差异。 由τ决定荧光寿命成像的每个像素的强度,这使研究 人员可以查看具有不同荧光衰减率的材料之间的对比度,还可以产生显示其他衰减路径变化的图像。
    型号:FLIM    厂商性质:代理商
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