15601689581
产品目录

Product catalog

相关文章

Related articles

  • 半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统
    半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统
    半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统利用半导体参数分析仪RTM2的集成开关矩阵实现无限的精度和稳定性用于片状、霍尔和电阻张量的测量。
    型号:    厂商性质:代理商
    查看详情
  • 时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)
    时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)
    我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数,薄膜测量厚度可达纳米量级!在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。 时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)
    型号:    厂商性质:代理商
    查看详情
  • FLIM高效率荧光寿命成像系统
    FLIM高效率荧光寿命成像系统
    高效率荧光寿命成像系统或FLIM是基于荧光样品中不同区域的荧光的指数衰减速率的差异。 由τ决定荧光寿命成像的每个像素的强度,这使研究 人员可以查看具有不同荧光衰减率的材料之间的对比度,还可以产生显示其他衰减路径变化的图像。
    型号:FLIM    厂商性质:代理商
    查看详情
共 3 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

昊量微信在线客服

昊量微信在线客服

版权所有 © 2024上海昊量光电设备有限公司 备案号:沪ICP备08102787号-3 技术支持:化工仪器网 管理登陆 Sitemap.xml