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  • 膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)
    膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)
    膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm),只需单击鼠标即可测量 1nm 至 1.8mm 的薄膜厚度。几乎可以测量任何透明或者半透明薄膜厚度,直观的设计意味着您可以在几分钟内进行一次薄膜厚度测量!
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  • 表面等离子体共振分析仪(SPR)
    表面等离子体共振分析仪(SPR)
    表面等离子体共振分析仪(SPR),SPR 是一种表面敏感型分析技术,用于化学和生物化学传感。通过检测传感器芯片表面层附近折射率的变化来进行物质分析。
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  • OZ optics-C波段平坦型ASE模块
    OZ optics-C波段平坦型ASE模块
    OZ optics-C波段平坦型ASE模块,封装在低高度的 OEM 箱体中,并内置驱动器。
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  • 手持式金属厚度测试仪
    手持式金属厚度测试仪
    手持式金属厚度测试仪, 可用于方块电阻,方阻测量。非接触式方块电阻方阻测量,可替代四探针传统测量。
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  • 叠层太阳能电池测试系统(太阳光模拟器)
    叠层太阳能电池测试系统(太阳光模拟器)
    叠层太阳能电池测试系统(太阳光模拟器),内置光谱仪和强度传感器与校准程序相结合,使重新校准非常简单。
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  • AUT-XperP-Projector无掩膜智能投影光电流系统
    AUT-XperP-Projector无掩膜智能投影光电流系统
    无掩膜智能投影光电流系统AUT-XperP-Projector,高频灰度实现线性可调的同时可以快速切换长度,来对整个阵列的所有器件进行激发。
    型号:AUT-XperP-Projector    厂商性质:代理商
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  • 同步源测系统RTM2-制样无需复杂光刻
    同步源测系统RTM2-制样无需复杂光刻
    同步源测系统RTM2-制样无需复杂光刻专为自动精密测量电阻和相关量而设计。半导体参数分析仪RTM2将直流和交流测量与集成开关矩阵结合在一起。
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  • 锥形光纤探针扫描系统
    锥形光纤探针扫描系统
    锥形光纤探针扫描系统GalvoStation是一种单通道光电激光设备,锥形光纤探针 扫描系统设计用于使用Lambda Fibers进行空间选择性光传输和收集。GalvoStation允许将Lambda光纤发出的光限制在其有效长度的子位置。
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  • 半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统
    半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统
    半导体参数分析仪RTM2-霍尔源测系统利用半导体参数分析仪RTM2的集成开关矩阵实现无限的精度和稳定性用于片状、霍尔和电阻张量的测量。
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  • 时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)
    时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)
    我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数,薄膜测量厚度可达纳米量级!在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。 时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)
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  • FLIM高效率荧光寿命成像系统
    FLIM高效率荧光寿命成像系统
    高效率荧光寿命成像系统或FLIM是基于荧光样品中不同区域的荧光的指数衰减速率的差异。 由τ决定荧光寿命成像的每个像素的强度,这使研究 人员可以查看具有不同荧光衰减率的材料之间的对比度,还可以产生显示其他衰减路径变化的图像。
    型号:FLIM    厂商性质:代理商
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