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  • 昊量光电/星朗浩宇光谱椭偏仪 M-2000
    昊量光电/星朗浩宇光谱椭偏仪 M-2000
    昊量光电/星朗浩宇光谱椭偏仪 M-2000融合旋转补偿器椭偏技术和高速全光谱检测,M-2000® 光谱椭偏仪, RCE 技术,高速 CCD 全光谱采集,支持 193–1690 nm,可用于薄膜厚度、折射率、消光系数及多层膜结构分析,适合材料研发、半导体工艺监控和光学镀膜检测。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 昊量光电/星朗浩宇RC2® 光谱型椭偏仪
    昊量光电/星朗浩宇RC2® 光谱型椭偏仪
    昊量光电/星朗浩宇RC2® 光谱型椭偏仪,采用双旋转补偿器设计,支持 193–2500nm 宽光谱测量,可完成广义椭偏、完整穆勒矩阵、薄膜厚度及光学常数测量,面向复杂薄膜、纳米结构和各向异性材料分析,适用于半导体、OLED、液晶和工艺监控。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 多波长椭偏仪(仅需25万!)
    多波长椭偏仪(仅需25万!)
    AUTFS1椭偏仪是利用椭圆偏振的方法对样品进行光学表征。在该系统中由偏振态发生器(PSG)发射已知偏振态的光斜入射到样品上,然后偏振态检测器(PSD)检测反射光的偏振状态。多波长椭偏仪(仅需25万!)
    型号:    厂商性质:代理商
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