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  • 全自动非接触晶圆电阻率成像系统
    全自动非接触晶圆电阻率成像系统
    全自动非接触晶圆电阻率成像系统,专为半导体行业设计,通过非接触式涡流技术与光学传感结合,实现晶圆基板及涂层的全区域表征,核心价值在于保障半导体制造的工艺可靠性与质量管控,广泛适配 Si、SiC、GaN 等主流及宽禁带半导体材料,是兼顾高采样率、高精度与空间优化的一体化检测解决方案。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 红外辐射显微成像系统(微观温度分布成像)
    红外辐射显微成像系统(微观温度分布成像)
    红外辐射显微成像系统(微观温度分布成像):IRLabs的IREM-IV红外显微镜系统使您能够更快、更准确、更可靠地进行半导体故障分析和调试。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • MMS-1A-RS三维磁场成像测绘系统
    MMS-1A-RS三维磁场成像测绘系统
    MMS-1A-RS三维磁场成像测绘系统是设计用于精确测量呈现轴向和径向多极磁化的永磁或电磁体设备(如转子或定子)产生的磁场。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 成像系统.高速荧光寿命(FLIM)显微成像系统
    成像系统.高速荧光寿命(FLIM)显微成像系统
    LIFA是一种基于相机的FLIM模块,用于快速荧光和磷光寿命成像。其*的频域检测技术由Toggel调制相机提供,可实现高精度的寿命图像近瞬时采集。高速荧光寿命(FLIM)显微成像系统
    型号:成像系统.    厂商性质:代理商
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