| 品牌 | OTSUKA/大塚电子 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 光谱范围 | 可见 | 按探测器 | 其它 |
| 应用领域 | 综合 | 产品型号 | MCPD-9800 |
| 光谱范围 | 紫外/可见/近红外 | 检测器通道 | 512ch或1024ch |
| 最快采集间隔 | 5微秒 | 积分时间范围 | 5ms-65s |
| 通信接口 | USB、LAN | 测量方式 | 非扫描式同步采集 |
| 执行标准 | JIS Z8724 |
昊量光电/星朗浩宇瞬间多通道光谱仪
昊量光电/星朗浩宇瞬间多通道光谱仪
日本大塚电子深耕光学测量技术五十余年,长期专注于高精度光谱与材料分析仪器的研发。其 MCPD 系列多通道阵列光谱仪采用非扫描式分光检测结构,可实现光谱的同步高速采集,广泛应用于发光材料分析、薄膜光学测量及荧光检测等领域。该系列产品在显示面板、半导体制造及材料研发等工业与科研场景中具有成熟应用,是兼具测量稳定性与工程可靠性的光谱分析设备平台。
MCPD-9800是一款涵盖紫外到近红外波长范围的多用途光谱仪,曝光时间下限可达5ms。配备了通用USB端口和LAN端口,可以通过512ch或1024ch探测器以5 微秒的间隔监视UV / VIS / NIR光谱,进行高速和高灵敏度频谱采集。产品使用标准光纤,可以配置柔性光学器件,免受样品形状和大小的任何限制。此外,可以轻松地集成到显微镜和大样品台,实现光学性能。MCPD系列均符合日本工业标准(JIS Z 8724)对光谱仪产品的质量和精度要求。可用于测量发光光谱透射/吸收光谱,反射光谱,光致发光,物体颜色,光源颜色(色度,亮度,照度),膜厚,等离子体发射光谱等对象,可以测量的技术参数包括微点光谱、光源、透射率、反射率、物体颜色和厚度等。

· 宽动态范围,适合全光束测量
· 杂散光校正功能可进行紫外线测量
· 集成时间范围5ms-65s,适用于微弱光测量、高速测量、在线测量等广泛测量需求
· 轻量、紧凑的竖立式设计,尺寸比上一代缩小约60%
· 具备能应对多种用途的各种类型的探测器
· 高速、高灵敏度测量光谱
· 通信接口可对应USB和LAN
· 光纤探头,可搭配其他探测件使用
· 精度满足日本工业标准JIS Z8724中对分光测光器的所有要求
该产品产品优势:
根据用途的各种检测器的阵容
以MCPD-9800为首,拥有两个系列,共达9个波长范围的检测器型号。可配合客户的需求与测量用途,选择适合的检测器。
通讯接口支持USB和LAN
具备了通用的USB端口,以及能满足远程遥控测量的LAN通信功能。便捷性和测量用途的范围扩大。
高速、高感度测量光谱
利用512ch或者1024ch的检测单元与检测器内部的存储器,对实时变化的紫外、可视、近红外领域的发光、透过和吸收光谱,能够以zui高速度5微秒(MCPD-9800机型的情况下)间隔进行高感度、高精度的测量。
利用光纤自由搭建光学系统
通过标准配置的光纤,不再受到样品形状和大小的约束,从而能够搭建更自由的光学系统。另外,能更容易与显微镜、大型平台等其他装置进行组合,在所有领域都得以发挥其优异的性能。此外,它很容易与显微镜和大型载物台等其他设备结合使用,因此在各个领域都表现出卓zhuo越的性能。
性能满足日本工业标准(JIS)的高性能分光测光器
MCPD能满足日本工业标准JIS z 8724(颜色的测量方法-光源色)中对分光测光器的所有精度要求,尽可放心使用。
标准可追溯提供可靠的校准服务
在根据计量法制定的校正实验室注册制度(JCSS*1注册制度)下,大塚电子的光计测实验室被认定为属于“光"注册分类的国际MRA*2对应的JCSS校正实验室。为了公平公正地评估照明器具和光源的性能,国内外都在推进光特性测量方法的规格化等各种各样的标准化,这些标准化所要求的测光均以“光"的可追溯性为基本。本次认定后,大塚电子开启了新的“光"校正事业,通过提供测光的可追溯性,努力为普及和发展节能环保的照明贡献自己的力量。
满足多样化需求的定制生产!
拥有丰富的附属配件、选配单元和分析软件。通过积累的技术和know-how,为客户需求提供高水平技术支持。
机型对比:
MCPD-6800是用于分光检测与分析的基本系统。可以瞬间进行分光光谱测量,也可以通过自由组合的光学系统和丰富的配件搭建各式各样的测量系统,测量波长范围有4款型号可选。(具体型号及参数可联系产品负责人获取)
MCPD-9800是该产品MCPD系列的premium model,具有更宽的动态范围,低杂散光功能以及更高速、更高再现性的性能。更适用于紫外定量评估、量子效率测量、在线测量为首的高精度测光系统。

该产品应用实例:











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