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  • Aut-s520光纤温压一体传感器
    Aut-s520光纤温压一体传感器
    Aut-s520光纤温压一体传感器,是一种基于 MEMS 芯片压力传感技术和法布里-珀罗(Fabry-Perot)干涉原理的光纤 温度压力传感器,具有尺寸小,精度高,稳定性好,不受电磁干扰和耐腐蚀,可在恶劣环境下做可靠测 量的特点;特别适合在临床、动物实验以及科学研究上用来测量或监控人体或动物体特定位置的温度压 力值,由于其微小的尺寸,可以很方便的进入狭小的腔道或者与其他器械集成。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 机构放大压电促动器
    机构放大压电促动器
    机构放大压电促动器具有显著的优势,包括减少零件数量、简化制造工艺以及由于可移动部件数量减少而提高的可靠性。此外,柔性机构可以通过消除滑粘效应来提供更平稳的运动。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 高速转向镜
    高速转向镜
    高速转向镜是快速调节光束方向的光学设备。它们在激光通信、自适应光学、倾斜校正、光学图像稳定和跟踪系统等应用中至关重要,可提高技术和研究的性能。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • Aut-s900光纤温度传感器
    Aut-s900光纤温度传感器
    Aut-s900光纤温度传感器,是一种基于法布里-珀罗(Fabry-Perot)干涉原理的温度传感器,具有尺 寸小、不受电磁干扰、精度高等特点,特别适合在临床手术、动物实验过程中测量手术器械与人体血管、 腔道的挤压力,由于其微小的尺寸,可以很方便的进入狭小的腔道或者与其他器械集成。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 高截止度可调谐滤波器
    高截止度可调谐滤波器
    高截止度可调谐滤波器,利用双折射诱导相位延迟(BIPD)进行滤波,可抑制水平的弹性背景光,实现布里渊光谱的采集。通用的超紧凑结构设计,BIPD滤波器在从自发到受激布里渊显微镜的标准光学设置中提供了灵活的实现。值得注意的是,BIPD滤光片可以在任何所需的激光频率下毫秒内进行调谐,并有可能在宽范围的VIS和NIR波长上运行。
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  • PR-745光谱辐射度计
    PR-745光谱辐射度计
    Photo Research 公司推出超灵敏光谱测试系统 - 制冷型号探测器 PR-730/735 和 PR-740/745 , PR-788 光谱式光度色度辐射度计。PR-730 和 PR-740, PR-788 覆盖可见光谱,从 380nm 到 780nm, 而 PR-735 和 PR-745 覆盖 380nm 到1080nm 可见光到近红外光谱波段,PR-745光谱辐射度计
    型号:    厂商性质:代理商
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  • Aut-s800光纤光栅位移传感器(温度补偿型)
    Aut-s800光纤光栅位移传感器(温度补偿型)
    Aut-s800光纤光栅位移传感器(温度补偿型)是一种拥有双光纤光栅和双光纤接头的温度补偿型位移传感器。具有位移与温度同时精确测量的功能,解决实际测量过程中位移与温度的交叉敏感问题。双光纤接头的设计便于多种光纤光栅传感器的串联组网。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • ViALUX LabKit — DLP产品便捷安装套件
    ViALUX LabKit — DLP产品便捷安装套件
    ViALUX LabKit — DLP产品便捷安装套件 (DMD)主要适用于ViALUX公司的两款系列产品:UltraSpeed Modules 和 SuperSpeed Modules。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • Phasics大口径激光测试解决方案-KALAS系统
    Phasics大口径激光测试解决方案-KALAS系统
    Phasics大口径激光测试解决方案-KALAS系统,高分辨率(512×512)、宽波段(可见光至短波红外)及闭环控制能力,已应用于激光聚变和自适应光学系统。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 方脉冲热源法测量系统(SPS)
    方脉冲热源法测量系统(SPS)
    方脉冲热源法测量系统(SPS)适用于亚毫米级样品的综合热物性测量,能够同时测量各向同性材料的热导率和比热容、三维各向异性热导率张量,以及半导体异质结构的薄膜热导率、比热容和界面热阻。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 多端口光器件IL PDL测试高速光功率测试平台
    多端口光器件IL PDL测试高速光功率测试平台
    多端口光器件IL PDL测试高速光功率测试平台具有 LAN、HDMI 和 USB 接口,其中 LAN 接口能够满足各种程控和数据通信需要。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统
    多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统
    多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统由可调谐激光源、高速光功率计平台组成,配合集成了相关算法的上位机软件,可以快速完成光器件不同波长下的 IL(插入损耗)、PDL(偏振相关损耗)、ILavg(平均插入损耗)测试。
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