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  • 昊量/星朗表面形貌轮廓测量标准片/标准样
    昊量/星朗表面形貌轮廓测量标准片/标准样
    昊量/星朗表面形貌轮廓测量标准片/标准样是一款用于表面形貌测量仪器校准的标准样。该产品包含多种几何结构和测量区域,可支持ISO 25178相关计量特性的评估。
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  • 昊量光电/星朗浩宇立式轮廓形貌测量仪
    昊量光电/星朗浩宇立式轮廓形貌测量仪
    昊量光电/星朗浩宇立式轮廓形貌测量仪(cyberSCAN CT350T)是一款非接触式双面光学形貌测量设备,具有350mm XY定位平台,上下双传感器同步采集高度数据,实现高精度差分厚度测量。该产品适用于半导体晶圆、工业零部件、燃料电池元件等领域的绝对厚度及TTV测量。
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  • 昊量+星朗小型桌面式表面轮廓量测设备
    昊量+星朗小型桌面式表面轮廓量测设备
    昊量+星朗小型桌面式表面轮廓量测设备(cyberSCAN VANTAGE 2)是一款三维表面轮廓测量系统,通过结合高分辨率的共焦传感技术及高精度XY位移平台,实现高精度表面形貌分析。该产品集成一体化设计,适用于半导体、光伏、光学涂层、MEMS等领域的精密检测。
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  • 可编程皮秒脉冲发生器
    可编程皮秒脉冲发生器
    可编程皮秒脉冲发生器,脉宽可调,重频可调,可内置时钟的皮秒脉冲发生器。该产品提供脉宽可编程的皮秒到纳秒电脉冲,输出脉冲可短至30ps,可驱动铌酸锂调制器和激光二极管产生短脉冲光。
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  • 膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)
    膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)
    膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm),只需单击鼠标即可测量 1nm 至 1.8mm 的薄膜厚度。几乎可以测量任何透明或者半透明薄膜厚度,直观的设计意味着您可以在几分钟内进行一次薄膜厚度测量!
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 表面等离子体共振分析仪(SPR)
    表面等离子体共振分析仪(SPR)
    表面等离子体共振分析仪(SPR),SPR 是一种表面敏感型分析技术,用于化学和生物化学传感。通过检测传感器芯片表面层附近折射率的变化来进行物质分析。
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  • 日置阻抗分析仪IM3570
    日置阻抗分析仪IM3570
    日置阻抗分析仪IM3570为测量频率4Hz~5MHz,测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析 仪合二为一的仪器。可以用交流信号测量LCR、直流信号测量电阻(DCR)、测量频率和 电平能连续和变化的情况下进行扫描测量等。 因为能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量,仅用一台IM3570就能 取代现在用在生产线上的众多仪器。
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  • 10.4GSPS 数字化高速采集卡
    10.4GSPS 数字化高速采集卡
    10.4GSPS 数字化高速采集卡,支持 5.2GSPS/10.4GSPS 采样率、12-bit 分辨率,采用高速大容量数据缓存和高速数据交换技术,适用于高速、瞬态信号的精确捕获,可用于构建多通道、 高精度10.4GSPS 数字化高速采集卡、同步采集系统。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • OZ optics-C波段平坦型ASE模块
    OZ optics-C波段平坦型ASE模块
    OZ optics-C波段平坦型ASE模块,封装在低高度的 OEM 箱体中,并内置驱动器。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 手持式金属厚度测试仪
    手持式金属厚度测试仪
    手持式金属厚度测试仪, 可用于方块电阻,方阻测量。非接触式方块电阻方阻测量,可替代四探针传统测量。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • 光电倍增管模块PMT
    光电倍增管模块PMT
    光电倍增管模块PMT,为仪器设计师提供了多种高性能即插即用解决方案,用于低光照和高光照水平的检测和测量。
    型号:    厂商性质:代理商
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  • AI超高效液相色谱仪(UHPLC)-免费测样
    AI超高效液相色谱仪(UHPLC)-免费测样
    AI超高效液相色谱仪(UHPLC)-免费测样,采用宪进的流通针方案,过针流路设计,实现了在无需改变任何系统配置的情况下,提供蕞宽的进样体积范围和蕞大的进样回收率。不论是常规进样还是小体积进样,均有较高的准确度。
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