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Atlas系列成像色度计(二维光谱视觉分析)

简要描述:Atlas系列成像色度计(二维光谱视觉分析)上海昊量光电提供Atlas系列2维光谱视觉系统(成像色度计)结合了光谱仪有点和高分辨率相机两款设备的独特系统,为显示器、LED显示屏和其它显示器件的视觉检测提供真实的颜色测量特性。另外,该系统也可以进一步扩展增加色度计的功能,可以用作闪烁测量。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2019-01-24
  • 访  问  量:319
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详细介绍

Atlas系列成像色度计(二维光谱视觉分析)

上海昊量光电提供Atlas系列2维光谱视觉系统(成像色度计)结合了光谱仪有点和高分辨率相机两款设备的独特系统,为显示器、LED显示屏和其它显示器件的视觉检测提供真实的颜色测量特性。另外,该系统也可以进一步扩展增加色度计的功能,可以用作闪烁测量。

系统具有高度的灵活性,通过一个预先定义好,庞大的函数库,而该函数库已经被整合在一个非常容易使用的语言脚本里,zui终用户可以按照自己的需求编写测试流程方案。

Atlas系列成像色度计(二维光谱视觉分析)

色度计,光度计,亮度计,照度计,LED显示屏检测,LCD显示屏检测,MURA检测,白点检测,显示屏坏点检测,显示屏色度监测,表面平整度检测,表面光泽度检测

 

 

 

 

产品特点:

Ÿ  可见光谱测量(380nm~780nm

Ÿ  亮度和色度测量

Ÿ  二维亮度和色度校准输出

Ÿ  二维均匀性检测

Ÿ  二维Mura检测(BlackCloudblobline

Ÿ  块状或区域对比

Ÿ  确定区域比较

Ÿ  像素/线缺陷检测

Ÿ  用户自定义测试流程脚本

Ÿ  合格/不合格测量

Ÿ  数据记录(用户自定义)

Ÿ  无需校准仪器(无需培训)

 

 

 

 

 

 

 

 

基本规格参数:

 

 

典型的测试项目:

色度、亮度均匀性

通过DFF均匀性算法

线缺陷

通过ADMESY算法

斑状缺陷

通过ADMESY  MURA算法

异物(灰尘等)

通过DFF MURA算法

像素缺陷

通过DFF MURA和颜色均匀性算法

漏光(边缘Mural

通过颜色均匀性算法

色斑检测

通过DFF均匀性算法

 

 

相机参数

参数

800万像素

1600万像素相机

分辨率

3312×2488

4872 × 3248

探测器

KAI-08050 TrueSense CCD

KAI-16000 TrueSense CCD

输出格式

12 bit

12bit

非线性度

 1%

 1%

信噪比

60dB

60dB

曝光时间

1ms ~ 16 Senconds

1ms ~ 16 Senconds

 

光谱仪参数

光谱范围

380nm ~ 780nm

波长分辨率(FWHM

2.3nm

积分时间

1.4ms – 20s

杂散光

 0.03%

非线性度

 1%

 

镜头参数

参数

800万像素

1600万像素相机

镜头

Componon-S 4.0/80

Componon-S 4.5/90

Componon-S 5.6/100

Componon-S 4.5/90

Componon-S 5.6/100

焦距

80.3mm

91.2mm

102.3mm

91.2mm

102.3mm

视场角

水平

12.5°

11.2°

10.1°

16.0°

14.5°

垂直

9.4°

8.4°

7.6°

10.7°

9.7°

斜线

15.5°

13.9°

12.6°

19.2°

17.3°

工作距离

6inch/152mm

593mm

677mm

766mm

492mm

558mm

8inch/203mm

774mm

883mm

997mm

635mm

719mm

10inch/254mm

956mm

1089mm

1228mm

779mm

880mm

12inch/305mm

1137mm

1295mm

1459mm

922mm

1041mm

       

 

 

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