激光测量设备_第(4)页-上海昊量光电设备有限公司

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激光测量设备

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皮米级绝对距离测量干涉仪
皮米级绝对距离测量干涉仪通过将可调激光器的频率锁定到F-P干涉仪的的谐振频率上，将干涉仪的位移测量转换为频率变化的测量。当F-P腔长在变化时，其谐振峰的频率也在发生变化，通过测量初始腔长，初始频率和频率变化，就可实现测量腔长。

型号：厂商性质：代理商
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中远红外波前传感器/波前分析仪
SID4-DWIR中远红外波前传感器/波前分析仪是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-DWIR波前传感器是市面上一款同时覆盖3 - 5微米;m中红外和8 - 14微米远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39微米或10.6微米激光和光学系统。

型号：厂商性质：代理商
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多波长动态干涉仪
Kaleo MultiWAVE多波长动态干涉仪同时可提供媲美Fizeau干涉仪测量精度，及动态干涉仪的抗震性能。

型号：厂商性质：代理商
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SID4-UHR超高分辨率波前传感器/波前分析仪
大口径超高分辨率波前传感器/波前分析仪搭载高性能相机，也可提供的激光表征精度。高达512 x 512（可选高至666 x 666）相位取样分辨率使SID4-UHR成为研究和工业领域中用于光学和激光计量的高性能工具。

型号：SID4-UHR 厂商性质：代理商
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短波近红外波前传感器
SID4-SWIR短波近红外波前传感器凭借其高取样分辨率（80 x 64相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7μm波段的精准波前测量。

型号：厂商性质：代理商
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太赫兹扫描干涉仪
太赫兹扫描干涉仪主要用于测量窄带太赫兹辐射的波长和强度分布，同时也可用于脉冲和连续窄带太赫兹辐射源。TSFPI由两个半透明平行硅镜组成，其中一个安装在电机驱动的线性致动器上。

型号：厂商性质：代理商
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SID4-eSWIR短波红外波前传感器(波前分析仪)
短波红外波前传感器(波前分析仪)将Phasics的四波剪切技术与T2SL探测器结合在一起，提供覆盖1.0至2.35 µm扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。

型号：SID4-eSWIR 厂商性质：代理商
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SID4-NIR近红外波前传感器(波前分析仪)
SID4-NIR近红外波前传感器(波前分析仪)是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。

型号：SID4-NIR 厂商性质：代理商
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SID4-UV-HR波前传感器(波前分析仪)
SID4-UV-HR波前传感器(波前分析仪)主要特点低至190nm波长感光灵敏 1 nm RMS高相位灵敏度 355 x 280超高相位取样分辨率

型号：SID4-UV-HR 厂商性质：代理商
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SID4-Bio定量相位成像相机
SID4-Bio定量相位成像相机直接测量透过任何生物标本光的相位，可与任何光学显微镜一起搭配使用，能够测量活细胞样品及众多其他透明样品上有价值的光学数值参数。

型号：SID4-Bio 厂商性质：代理商
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SID4-SWIR-HR高分辨率短波红外波前传感器
SID4-SWIR-HR 高分辨率短波红外波前传感器是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

型号：SID4-SWIR-HR 厂商性质：代理商
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SID4-UV紫外波前传感器(波前分析仪)
SID4-UV 紫外波前传感器(波前分析仪)与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。

型号：SID4-UV 厂商性质：代理商
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