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  • 表面增强拉曼散射SERS衬底/基底
    表面增强拉曼散射SERS衬底/基底
    昊量光电新推出用于超灵敏分子检测用的表面增强拉曼散射SERS衬底/基底SERStrate ,实现低至 pm浓度的超灵敏分子检测。能够对从生命科学到军事应用的各种分子进行痕量检测。大多数器件制造技术涉及聚合物掩膜沉积(某种形式的光刻)或复杂的化学,这大大增加了器件制造成本。
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  • 447nm/671nm/1342nm 纳秒脉冲固体激光器
    447nm/671nm/1342nm 纳秒脉冲固体激光器
    447nm/671nm/1342nm 纳秒脉冲固体激光器,IDOL 系列产生特殊的1342nm 波长及其倍频(671nm)、三倍频(447nm),其中1342nm 特别适合硅材料处理如隐形划片、集成电路修剪,而671nm、447nm则在显示平板修补领域有广泛应用。
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  • 213/224 深紫外纳秒激光器(IMPRESS 系列)
    213/224 深紫外纳秒激光器(IMPRESS 系列)
    213/224 深紫外纳秒激光器(IMPRESS 系列),可用于FBG 刻蚀、钻石及蓝宝石打标加工等应用,213nm 波长及TEM00 模式使它可以用于小于微米的直写加工。
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  • 193nmDUV深紫外单纵模固体激光器
    193nmDUV深紫外单纵模固体激光器
    193nmDUV深紫外单纵模固体激光器,光谱带宽接近其理论傅立叶极限。该193nm激光器的中心波长可在185和194 nm之间的范围内定制,订购时可配置为固定波长。
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  • VFI 光纤端面干涉仪
    VFI 光纤端面干涉仪
    VFI 光纤端面干涉仪可测量大多数标准和特种光纤,包括保偏光纤和空芯光纤。VFI 光纤端面干涉仪在研究、生产和质量保证领域已得到反复验证。
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  • 单周期超短脉冲测量仪(d-cycle)
    单周期超短脉冲测量仪(d-cycle)
    单周期超短脉冲测量仪(d-cycle)是实现快速且精确测量超短脉冲的优先方案,尤其是针对苛刻的超短脉冲光源,如超宽带光谱和单周期(single-cycle)的脉冲,也是目前可测量shortest pulse 的商业化测量仪器。d-cycle灵活且独立的设计架构能够测量各种超短脉冲光源,比如宽带振荡器,放大器
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  • 高分辨率纳米粒度和Zeta电位二合一测量仪
    高分辨率纳米粒度和Zeta电位二合一测量仪
    高分辨率纳米粒度和Zeta电位二合一测量仪独特亮点在于可选配用于外部原位测量的非接触式光纤探头,实现对定制容器、反应器内部或预灌封注射器等场景的直接无损监测,避免了分批处理,集成了粒度、Zeta 电位和远程测量这“三合一解决方案”。
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  • FP标准具
    FP标准具
    昊量光电代理的FP标准具旨在根据用户的需求设计蕞符合客户需求的产品,您只需提供简单的参数要求,就可以预先获得工程师设计的标准具设计方案进行确认,所有的标准具都被设计安装在一个弹性单元内,可以提供蕞大程度的保护。
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  • 单发超短脉冲测量仪(d-shot)
    单发超短脉冲测量仪(d-shot)
    d-shot 是基于色散扫描技术(D-scan)开发的一款超短脉冲测量仪。d-shot 适用于宽光谱超短激光的测量,支持重频single shot至MHz。使用方便,将光束耦合到 d-shot 只需几分钟时间,能够进行实时、流畅的测量。单发超短脉冲测量仪(d-shot)
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  • 光热测量系统(光学弱吸收)
    光热测量系统(光学弱吸收)
    光热测量系统(光学弱吸收)主要用途是对不同光学元件(如镀膜、基底、晶体、界面等)的吸收特性进行表征。该装置采用泵浦-探测方式,基于热透镜效应,吸收测试在“泵浦”激光的波长下进行。为提高灵敏度,泵浦光经斩波调制,以实现对被测样品的周期性加热。探测光束感知被吸收的泵浦光所引起的加热效应。
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  • 双频激光干涉仪
    双频激光干涉仪
    双频激光干涉仪HPI-3D是市场上的高性能激光干涉仪之一。作为双频外差系统,它的测量精度和分辨率为用户提供了大量新的选择。非常容易使用,它既可以应用于研究实验室,也可以用于机器几何测量。精确的机器校准对于提供高质量的产品至关重要。使用我们的系统,您可以快速、轻松地进行精确的校准。基本配置能够进行线性位移、振动、速度和定位的测量。
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  • 一机多能的“全栈式”光束分析仪
    一机多能的“全栈式”光束分析仪
    Building Block系列 | 一机多能的“全栈式”光束分析仪:一机多能,可同时适用于近场光束、聚焦光束、大光斑光束等场景测量!
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