激光测量设备_第(11)页-上海昊量光电设备有限公司

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激光测量设备

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TMC AMETEK Everstill 桌面主动隔振台
TMC AMETEK Everstill 桌面主动隔振台：通过运用TMC STACIS压电消振系统，Everstill系统可以消除低至0.7Hz的振动。通过专门针对低频的消除设计，Everstill系列在1到10H有很好表现。

型号：厂商性质：代理商
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FR-103kHz实时测量自相关仪
实时测量自相关仪FR-103kHz基于其创新性的微分延迟配置，特别适用于测量kHz频率的放大器脉冲，能够实现实时测量。

型号：FR-103kHz 厂商性质：代理商
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quDIS皮米精度位移激光干涉仪
昊量光电推出的皮米精度位移干涉测量仪quDIS是对纳米级别的位移波动进行量测的理想仪器，基于其*的测量原理，相对距离的重复精度达到了50皮米。quDIS可同时支持三个测量通道，使其可以适用于任意的多轴测量中。quDIS在原理上同样采用激光干涉法，不过与传统激光干涉仪相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及饱和吸收气室（GC）作为频率校准参考，通过皮米精度位移激光干涉仪

型号：quDIS 厂商性质：代理商
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ArisTT系列桌面式主动隔震平台/隔振台
昊量光电新推出AFM、STM、台式扫描电镜、数字显微镜，SEM/TEM等的主动隔振解决方案，采样*解耦的结构设计，有效隔离了来自地板的振动和由工具产生的振动，实现六自由度主动隔振，体积小质量轻负载能力强，易于集成到各类工作环境中，有效改善显微镜性能和图像质量。桌面式主动隔震平台/隔振台

型号：ArisTT系列厂商性质：代理商
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SHR-IR近红外激光波长计/光谱仪
SHR-IR是一款理想的用来测量脉冲激光器、连续激光器或二极管波长的波长计/光谱仪，波长范围600-1800nm，精度±15pm。近红外激光波长计/光谱仪

型号：SHR-IR 厂商性质：代理商
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（190nm-5000nm）高功率宽光谱光束质量分析仪 KLT-UBP
直观易用、与波长无关的独立光束分析解决方案，适用于高功率测量以及宽光谱测量。高功率宽光谱光束质量分析仪 KLT-UBP （190nm-5000nm）

型号：（190nm-5000nm）厂商性质：代理商
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Xper WLI白光干涉仪
Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。白光干涉仪

型号：Xper WLI 厂商性质：代理商
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干涉仪.迈克尔逊干涉仪 FTIR用
在一个臂上增加一个移动反光镜以完成干涉仪，并允许光路差在零OPD附近变化。坚固的结构和对准的特点，意味着 INT 05 系列干涉仪很适合您更高精度的近红外分析仪的应用。迈克尔逊干涉仪 FTIR用

型号：干涉仪. 厂商性质：代理商
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ACT-25B自准直仪
ACT-25B一体化集成自准直仪是一种高精度的测量仪器，能够将分辨率提高到弧秒级。

型号：ACT-25B 厂商性质：代理商
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APE自相关仪-PulseCheck
利用APE自相关器测量飞秒和皮秒激光系统的脉冲宽度。该技术基于二次谐波（SHG）检测或双光子吸收（TPA）检测原理。激光束源的脉冲宽度也称为脉宽，是指脉冲的瞬时功率前后两次达到峰值功率的50%的时间间隔（即时域的半高全宽FWHM）。 APE自相关仪-PulseCheck

型号：厂商性质：代理商
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NFBP系列.近场光束分析仪 - NFBP系列
CINOGY推出的近场光束分析仪NFBP系列适用于测量聚焦的激光光束和近场成像的光纤终端或激光二极管输出表面的激光光束。该装置基于紧凑的CinCam CMOS相机，可以用不同的显微镜物镜组装。这些校准的显微镜物镜保证了大的准确性，并能在衍射极限下成像小光束结构。近场光束分析仪 - NFBP系列

型号：NFBP系列. 厂商性质：代理商
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FSC.FSC快速伺服控制器
FSC快速伺服控制器，PID控制，用于高带宽激光频率锁定，提供快速（电流）和慢速（PZT）双通道反馈，用于激光频率全控制。该控制回路也可优化用于谐振腔锁定、线宽压窄、beatnote offset locking等应用。

型号：FSC. 厂商性质：代理商
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