<标准型波前传感器(波前分析仪)SID4-上海昊量光电设备有限公司
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标准型波前传感器(波前分析仪)

简要描述:SID4标准型波前传感器(波前分析仪):剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为入门级的高分辨率波前传感器,SID4覆盖可见光和近红外范围,是适用于各种激光或光学计量应用的多功能工具。

  • 产品型号:SID4
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2021-12-21
  • 访  问  量:516
详细介绍
品牌其他品牌产地类别进口
应用领域生物产业,电子,综合波前传感器2nmRMS高相位灵敏度

SID4 标准型标准型波前传感器(波前分析仪)

【SID4简介】

随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为入门级的高分辨率波前传感器,SID4覆盖可见光和近红外范围,是适用于各种激光或光学计量应用的多功能工具。


【关于Phasics】

Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与*的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。


一、 SID4 标准型波前传感器(波前分析仪)主要特点

l  2 nm RMS高相位灵敏度

l  400-1100 nm工作波长范围内自消色差无需校准

l  瞬时相位测量,对振动不敏感

l  可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷

               

非准直光入射                                                                                                      

消色差


二、SID4波前传感器产品应

光束参数测量:波前像差测量+光束分析仪

基于四波剪切技术,Phasics 的波前传感器同时提供具有高分辨率的相位和强度测量。 SID4 波前传感器与其光束分析软件相结合,可提供完整的激光诊断:波前像差、强度分布、激光光束质量参数(M2、束腰尺寸和位置等)。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点,无论光束是准直的还是发散的。 Phasics SID4 波前传感器适用于从紫外到远红外的任何连续或脉冲激光,包括宽带可调光源、拍瓦激光等。


应用领域:激光测控、光学与系统计量、定量相位成像、材料检验


三、SID4波前传感器测量案例


           

波前像差                                                       

波前像差3D图                                               

SLM 光束整形                                        


四、SID4波前传感器主要规格

波长范围400-1100 nm
靶面尺寸4.73 x 3.55 mm²
空间分辨率29.6 µm
取样分辨率160 x 120
相位分辨率< 2 nm RMS
绝对精度10 nm RMS
采集速率60 fps
实时处理速度 > 10 fps (全分辨率下)


五、与夏克-哈特曼波前传感器对比

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六、更多参数选型

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