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短波红外波前传感器(波前分析仪)

简要描述:短波红外波前传感器(波前分析仪)将Phasics的四波剪切技术与T2SL探测器结合在一起,提供覆盖1.0至2.35 &#181;m扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。

  • 产品型号:SID4-eSWIR
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2021-12-21
  • 访  问  量:411
详细介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域环保,化工,生物产业,能源,综合
SID4-eSWIR 波前传感器主要特点1.0至2.35 μm扩展波段全覆盖

SID4-eSWIR 短波红外波前传感器(波前分析仪)


【SID4-eSWIR简介】

随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。SID4-eSWIR波前传感器将Phasics的四波剪切技术与T2SL探测器结合在一起,提供覆盖1.0至2.35 µm扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。 SID4-eSWIR是一种创新的解决方案,可用于检测空间光通信、测试仪表、夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。


【关于Phasics】

Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与*的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。


一、 SID4-eSWIR 短波红外波前传感器(波前分析仪)主要特点

  • 1.0至2.35 µm扩展波段全覆盖

  • 80 x 64高相位分辨率

  • 瞬时相位测量,对振动不敏感

  • 可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷


二、SID4-eSWIR 波前传感器产品功能

  • 波前像差测量


基于四波剪切技术,Phasics 的波前传感器同时提供高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合,可提供完整的激光诊断:波前像差、强度分布、激光光束质量参数(M2、束腰尺寸和位置等)。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点,无论光束是准直的还是发散的。SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器,专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。


三、SID4--eSWIR 波前传感器应用领域

激光 |自适应光学及等离子体检测 |光学计量及光学系统计量


四、SID4-eSWIR 波前传感器主要规格

波长范围1 - 2.35 µm
靶面尺寸9.60 x 7.68 mm²
空间分辨率120 µm
取样分辨率80 x 64
相位分辨率< 6 nm RMS
绝对精度< 40 nm RMS
实时处理速度10 fps (全分辨率下)*
接口种类USB 2.0


五、更多参数选型


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