| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 环保,电子/电池,航空航天 | 灵敏度 | 0.1-0.5 pT/√HZ |
Mprobe 20 薄膜测量系统 (单点测量)
MProbe 20是一款桌面式单点薄膜厚度测量系统，只需点击鼠标薄膜厚度和折射率测量，测量厚度范围1nm-1mm，MProbe 20可对多层膜层进行测量。不同的MProbe 20配置主要由光谱仪的波长范围和分辨率来区分，这又决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。该测量技术基于光谱反射率，具有快速、可靠、无损等特点。在世界范围内有成千上万的应用。
Mprobe 20 薄膜测量系统 (单点测量)配置包括：
主单元(包括光谱仪、光源、光控制器、微处理器)
SH200A样品台，带对焦镜头，可微调
光导纤维反射探头
TFCompanion -RA软件、USB适配器(授权密钥)、USB记忆棒附带软件发行、用户指南等资料
根据型号和黑色吸收体的不同，校准装置(裸硅片和/或石英板和/或铝镜)
测试样品200nm的氧化硅或PET薄膜，视型号而定
USB或LAN线(用于连接主机和PC)
24VDC电源适配器(110/220V)
核心指标:
精度:<0.01nm或0.01%(在200nm的氧化物上测量100次)
精度:<1nm或0.2%(依赖于filmstack)
稳定性:< 0.02nm或0.2%(每天测量20天)
光斑大小:< 1毫米
样本尺寸:>= 10mm
参见下面小册子中MProbe 20薄膜厚度测量系统可用配置的详细规格
选型列表：
MProbe 20 | 波长范围 | 厚度范围 |
VIS | 400nm -1100nm | 10nm – 75 μm |
UVVISSR | 200nm -1100nm | 1nm -75μm |
VISHR | 700nm-1700nm | 1μm-400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 50nm – 85μm |
UVVisF | 200nm -800nm | 1nm – 5μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | 1nm -75μm |
NIRHR | 200nm -1100nm | 10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si) |
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