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Mprobe 20 薄膜测量系统 (单点测量)

简要描述:Mprobe 20 薄膜测量系统 (单点测量)是一款桌面式单点薄膜厚度测量系统,只需点击鼠标薄膜厚度和折射率测量,测量厚度范围1nm-1mm.

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2021-08-14
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详细介绍
品牌其他品牌产地类别进口
应用领域环保,电子,航天灵敏度0.1-0.5 pT/√HZ

Mprobe 20 薄膜测量系统 (单点测量)



MProbe 20是一款桌面式单点薄膜厚度测量系统,只需点击鼠标薄膜厚度和折射率测量,测量厚度范围1nm-1mm,MProbe 20可对多层膜层进行测量。不同的MProbe 20配置主要由光谱仪的波长范围和分辨率来区分,这又决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。该测量技术基于光谱反射率,具有快速、可靠、无损等特点。在世界范围内有成千上万的应用。

Mprobe 20 薄膜测量系统 (单点测量)配置包括:

主单元(包括光谱仪、光源、光控制器、微处理器)
SH200A样品台,带对焦镜头,可微调
光导纤维反射探头
TFCompanion -RA软件、USB适配器(授权密钥)、USB记忆棒附带软件发行、用户指南等资料
根据型号和黑色吸收体的不同,校准装置(裸硅片和/或石英板和/或铝镜)
测试样品200nm的氧化硅或PET薄膜,视型号而定
USB或LAN线(用于连接主机和PC)
24VDC电源适配器(110/220V)


核心指标:
精度:<0.01nm或0.01%(在200nm的氧化物上测量100次)
精度:<1nm或0.2%(依赖于filmstack)
稳定性:< 0.02nm或0.2%(每天测量20天)
光斑大小:< 1毫米
样本尺寸:>= 10mm
参见下面小册子中MProbe 20薄膜厚度测量系统可用配置的详细规格


选型列表:

MProbe 20 

波长范围

厚度范围

VIS

400nm -1100nm

10nm – 75 μm

UVVISSR

200nm -1100nm

1nm -75μm

VISHR

700nm-1700nm

1μm-400μm

NIR

900nm-1700nm

50nm – 85μm

UVVisF

200nm -800nm

1nm – 5μm

UVVISNIR

200nm-1700nm

1nm -75μm

NIRHR

200nm -1100nm

10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)


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