激光测量设备_第(6)页-上海昊量光电设备有限公司

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激光测量设备

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MPROBE 40 MSP微小区域薄膜厚度测量仪
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜，用于小点薄膜厚度测量。

型号：MPROBE 40 MSP 厂商性质：代理商
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宽带飞秒光纤激光器-多色双光子显微专用
宽带飞秒光纤激光器-多色双光子显微专用SCH提供了非常宽的光谱带宽，在近红外光谱中扩展到900-1200nm光谱。这与大多数绿色和红移荧光标记的双光子激发光谱重叠，包括eGFP、mRFP和dred。

型号：厂商性质：代理商
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宽带飞秒光纤激光器
昊量光电新推出宽带飞秒光纤激光器，其基于高功率1050nm飞秒光纤激光器结合LMA-PCF光子晶体光纤非线性转换模组，飞秒光纤激光器将窄带高峰功率脉冲转换为波长为950 ~ 1200 nm的大功率宽带输出。

型号：厂商性质：代理商
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DISCO超连续谱激光器
DISCO超连续谱激光器是指当一束高强度的短脉冲通过非线性材料时，经过一系列非线性效应与线性色散的共同作用，使得出射光中产生许多新的频率成分，从而使频谱得到极大展宽的一种现象。超连续谱激光器（SupercontinuumSources）又称超连续激光器、超连续光源、白光激光器。

型号：厂商性质：代理商
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Moku:Pro_PID控制器PLL锁相环
Moku:Pro_PID控制器PLL锁相环，Moku:PID控制器的PID控制器具有四个*可配置的PID控制器，具有亚微秒的延迟。这使得它们能够用于要求低和高反馈带宽的应用，如激光温度和电流稳定。通过使积分和微分控制器具有独立的增益设置，PID控制器也可以用作超前滞后补偿器。

型号：厂商性质：代理商
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Moku:Pro频率响应分析仪
Moku:Pro频率响应分析仪是测量被测系统频率特性的仪器。早期频率特性的测量是用信号源、电压表、频率计、相位计、示波器等单机组成，仪器操作复杂，易受干扰，测量精度低。

型号：厂商性质：代理商
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可见近红外LED光通量颜色测量仪
可见近红外LED光通量颜色测量仪，LED 的光度规格通常必须满足非常高的容差要求，即使对于通用和汽车照明等非专业应用也是如此。因为 LED 的制造公差可能高于应用中允许的公差，这通常就会是一个问题。LED 制造商基于强度和颜色的分级提供的容差限制仅适用于操作条件与分级测试相似的情况。

型号：厂商性质：代理商
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X1-3紫外和蓝光危害测量仪
紫外和蓝光危害测量仪X1-3，”蓝光危害”是指一种特定的光生物危害，与光化学诱导的眼睛内视网膜损伤的可能性有关（视网膜炎）。例如，它不关心昼夜节律的可能中断。只有通过眼角膜并在视网膜上成像的辐射才与蓝光危害评估相关。设备有适当的标准和必要的测量技术对光危害的评定可能显得尤为重要。

型号：X1-3 厂商性质：代理商
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皮米级绝对距离测量干涉仪
皮米级绝对距离测量干涉仪通过将可调激光器的频率锁定到F-P干涉仪的的谐振频率上，将干涉仪的位移测量转换为频率变化的测量。当F-P腔长在变化时，其谐振峰的频率也在发生变化，通过测量初始腔长，初始频率和频率变化，就可实现测量腔长。

型号：厂商性质：代理商
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中远红外波前传感器/波前分析仪
SID4-DWIR中远红外波前传感器/波前分析仪是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-DWIR波前传感器是市面上一款同时覆盖3 - 5微米;m中红外和8 - 14微米远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39微米或10.6微米激光和光学系统。

型号：厂商性质：代理商
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多波长动态干涉仪
Kaleo MultiWAVE多波长动态干涉仪同时可提供媲美Fizeau干涉仪测量精度，及动态干涉仪的抗震性能。

型号：厂商性质：代理商
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SID4-UHR超高分辨率波前传感器/波前分析仪
大口径超高分辨率波前传感器/波前分析仪搭载高性能相机，也可提供的激光表征精度。高达512 x 512（可选高至666 x 666）相位取样分辨率使SID4-UHR成为研究和工业领域中用于光学和激光计量的高性能工具。

型号：SID4-UHR 厂商性质：代理商
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