<相位偏折测试系统-上海昊量光电设备有限公司
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相位偏折测试系统

简要描述:相位偏折测试系统,是基于相位测量偏折法的高精度 3D 表面检测方案,覆盖平面、曲面、多件并行与机器人引导等场景,单次测量即可完成形状偏差与表面缺陷检测,适配汽车、3C、半导体等行业的微米级质量控制。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-04-07
  • 访  问  量:13
详细介绍
品牌昊量光电产地类别国产
应用领域综合

相位偏折测试系统


ISRA SpecGAGE3D 系列是基于相位测量偏折法的高精度 3D 表面检测方案,覆盖平面、曲面、多件并行与机器人引导等场景,单次测量即可完成形状偏差与表面缺陷检测,适配汽车、3C、半导体等行业的微米级质量控制。



相位偏折测试系统核心的功能:


  • 单次测量同步完成形状控制(平整度、半径、曲率)与缺陷检测(划痕、缩痕、气泡、杂质)

  • 自动 CAD 比对(几秒内完成),生成高度差异图,支持低至微屈光度的偏差识别

  • 支持反射 / 透射双配置,适配镜面与透明件(如玻璃杂质、内部缺陷)

  • 多配方管理、AI 缺陷分类、实时数据追溯,适配 24/7 产线监控


相位偏折 测试系统差异化的优势:


  • 高效集成:无缝对接产线 PLC,支持在线闭环控制与联动纠偏

  • 灵活适配:宽幅 / 曲面 / 多件并行检测,支持定制化光学设计

  • 成本优化:减少人工干预,降低材料损耗


相位偏折 测试系统应用的场景及测试:


  • 3C:手机 / 平板盖板、背板、曲面玻璃

    划痕、针孔、气泡、边缘缺陷、厚度不均

  • 汽车:内外饰塑料件、曲面显示屏、车灯面罩

    缩痕、抛光痕迹、应力痕、装配间隙偏差

  • 显示:LCD/OLED 偏光片、光学薄膜、导光板

    表面不均匀、水波纹、橘皮纹

  • 半导体:晶圆表面、封装基板

    微裂纹、蚀刻残留物、晶格缺陷、边缘损伤


相位偏折 测试系统测量的原理:




反射定律简介及测量原理:



相位偏折 测试系统产品的介绍及参数:


SpecGAGE3D-L:

  • 蕞多可配备四台摄像机,高分辨率摄像机,机柜内蕞多可安装五台计算机、高速模块

  • 能够轻松融入生产线

  • 高精度、高灵敏度和横向分辨率



观察视野

~300×200mm²

横向分辨率

~ 250 µm

测量时间

typ. 3-15 s

评估时间

typ. 3-15 s

周期时间

typ. 6-25 s

准确性(形状)

+/- 10 µm over 100×100mm²

照明装置

1×32 “ LCD monitor

采集单元

2×1,3 MP camera

控制单元

1×IPC

控制软件

SoftPMD3D

尺寸

~860×835×600 mm³

重量

70Kg



SpecGAGE3D-XL:

  • 对大型、复杂且弯曲形状物体的测量组件

  • 多摄像头系统:从多个视角进行检查

  • 具有出色的防尘和抗干扰光线性能

  • 非常宽广的视场角,适用于多部件测量



观察视野

~600×400mm²

横向分辨率

~ 250 µm

测量时间

typ. 3-15 s

评估时间

typ. 3-15 s

周期时间

typ. 6-25 s

准确性(形状)

+/- 10 µm over 100×100mm²

照明装置

1×55“ LCD monitor

采集单元

2×5 MP camera

控制单元

1×IPC

控制软件

SoftPMD3D

尺寸

~1700×1820×1210 mm³

重量

600Kg


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