<原位薄膜厚度测量仪MPROBE 50 INSITU-上海昊量光电设备有限公司
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原位薄膜厚度测量仪

简要描述:原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU-昊量用于测量薄膜厚度和 n&amp;k(光学常数)的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作,因为它使用门控数据采集。

  • 产品型号:MPROBE 50 INSITU
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-04-13
  • 访  问  量:103
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详细介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域生物产业,电子,综合
原位薄膜厚度测量仪MPROBE 50 INSITU

原位薄膜厚度测量仪


原位薄膜厚度测量仪用于测量薄膜厚度和 n&k(光学常数)的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作,因为它使用门控数据采集,使用高强度闪光氙灯在宽带 ( UV-NIR) 波长范围内进行精确测量。MProbe 50 系统是完全可定制的,以支持不同的真空室几何形状。根据可用的光学端口,可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在样品表面或准直。反射探头可以放置在沉积室光学端口的外部或内部(使用光纤馈通)。MProbe 50 系统没有活动部件。典型测量时间~10ms。可以快速可靠地测量任何半透明薄膜。


优势:

1.原位薄膜厚度和 n&k 测量

2.用于高环境光环境下测量的门控数据采集

3.材料:500+ 扩展材料数据库

4.连续、快速和可靠的测量

5.灵活的配置——完全定制以匹配沉积室的几何形状


选型列表:

MProbe50

波长范围

   厚度范围

  VIS

400nm -1100nm

  15nm – 20 μm

HRVIS

700nm-1000nm

   1μm-400μm

  NIR

900nm-1700nm

 100nm – 200μm

 UVVisF

200nm -900nm

  1nm – 20μm

UVVISNIR

200nm-1700nm

  1nm -200μm

XT

1590nm -1650nm

  10μm-1mm



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