昊量/星朗红外波段分光光度计-RT 7514系列

昊量/星朗红外波段分光光度计-RT 7514系列

长波红外镀膜精密检测，变角度+偏振，一步到位

PHOTON RT 7514 是一款专用于长波红外（LWIR，7.5–14 μm）波段的色散型分光光度计。该仪器以 Czerny‑Turner 光栅单色器为核心，采用金镜和 ZnSe 透镜光学元件，主要用于平面光学元件及镀膜样品的透射率与反射率测量。PHOTON RT 7514 支持 0～60° 变角度入射测量，并内置高对比度偏振片，可自动完成 S 偏振、P 偏振及平均偏振光谱采集。其突出的自动光束位移补偿技术（40 mm）确保了高角度下偏振测量的精度与速度。借助低噪声制冷 MCT 探测器和优化的背景辐射管理，仪器具备非常好的基线稳定性（±0.3%/h）和重复性（光度重复精度 ±0.1%），杂散光水平低于 0.2%。整机全自动运行，适用于国防、军工、航空航天及红外光学制造领域中的镀膜表征、材料筛选、镀膜均匀性分析和质量认证。

昊量/星朗红外波段分光光度计-RT 7514系列参数规格：

该产品产品特点：

• 专为长波红外波段设计：有效波长范围覆盖 7.5–14 μm，满足红外光学镀膜的高精度检测需求。

• 变角度与偏振测量：支持 0–60° 变角度入射，内置高对比度宽带偏振片，可自动完成 S 偏振、P 偏振及平均偏振光谱采集，无需外部附件。

• 自动光束位移补偿：内置光束位移补偿技术（补偿量 40 mm），自动校正高角度测量时的光束偏移，确保偏振测量的精度与效率。

• 高精度与高稳定性：采用低噪声制冷 MCT 探测器，结合优化的背景辐射管理，基线稳定性 ≤±0.3%/h，连续 60 次扫描信号偏差<0.2%；光度精度 ±0.2%，光度重复精度 ±0.1% 。

• 低杂散光水平：杂散光<0.2%，确保测量数据的可靠性。

• 全自动化操作：支持无人值守的预设测量序列，大幅降低人工误差。

• 灵活的样品兼容性：样品尺寸可达 150×200 mm，厚度可达 40 mm，适配多种平面光学元件。

• 可靠的光学系统：Czerny-Turner 光栅单色器，金镜和 ZnSe 透镜（带增透膜），保证优异的光学性能。

• 内置校准光源：配备红外灯和 HgAr 波长校准验证灯，确保波长精度。

• 坚固耐用的整机设计：尺寸 760×380×350 mm，净重 51 kg，结构稳定，适用于研发与生产环境。

该产品应用领域：

• 国防、军工、航空航天：红外光学元件的计量与检测。

• 红外光学镀膜表征：测量平面光学元件和镀膜反射镜在长波红外波段的透射率与反射率，支持变角度（0‑60°）和偏振控制（S、P偏振及其平均），为增透膜、高反膜等镀膜工艺优化提供数据支撑。

• 红外光学材料与元件检测：适用于 ZnSe、Ge、硫系玻璃等材料的透过率和反射率测试，服务于红外热成像、红外制导、红外探测等系统的光学元件筛选。

• 镀膜均匀性与光谱均匀性分析：结合电动 XY 样品台选件，进行二维扫描测绘，评估镀膜在平面上的空间均匀性。

• 红外光学系统研发与质量控制：为光学系统设计提供镀膜元件的精确光谱数据，支持从光学仿真到装调的全链条验证；同时用于批量生产中的 QA/QC 检测、入库检验和出厂认证。