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非接触式金属膜厚测量仪常见故障及处理方法

更新时间:2023-05-26 点击次数:303
   非接触式金属膜厚测量仪通常用于测量金属薄膜的厚度,例如在半导体、涂料、电子元件制造等领域中。它可以通过使用光学或放射性技术来测量薄膜的厚度,并且不需要与被测物体接触,从而避免了可能对样品造成的损伤或污染。

非接触式金属膜厚测量仪

 

  原理:
  非接触式金属膜厚测量仪主要通过测量被测物表面反射的光强来确定金属膜的厚度。该测量仪使用一个激光或LED发射器照射被测物表面,然后测量反射光的强度并将其转换为金属膜的厚度数据。该测量方法具有高精度、高速度和非接触等优点,适用于金属薄膜的厚度测量。
  非接触式金属膜厚测量仪常见故障及处理方法:
  故障:读数不稳定或不准确
  处理方法:检查是否存在干扰源,例如强磁场、震动等。还可以校准仪器或更换探头。
  故障:显示屏无法显示或出现乱码
  处理方法:检查电源和信号线连接是否正常,尝试重启设备。如果问题仍然存在,则可能需要更换显示屏或主板。
  故障:探头损坏或失灵
  处理方法:更换探头,并进行校准操作以确保测量的准确性。
  故障:仪器运行异常或无法开机
  处理方法:检查电源连接是否正常。如果电源正常但仍无法开机,则可能需要维修或更换主板或其他内部组件。
  故障:测量范围超出限制或无法调整
  处理方法:检查仪器的规格参数,了解其测量范围。如果超出了其测量范围,则需要使用适合范围的仪器。如果无法调整,则可能需要校准或更换部件。

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