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法国Phasics公司高精度红外/近红外波前传感器取得出口豁免,无需出口许可

更新时间:2023-05-25 点击次数:502

好消息!法国Phasics公司高精度红外/近红外波前传感器取得出口豁免,无需出口许可!


法国Phasics成立于2003年,提供zui先jin的光学计量和成像解决方案。PHASICS公司波前传感器采用其获得zuan利的四波横向剪切干涉测量术(QWLSI)。这项技术克服Shack-Hartmann传感器的局限性,从而可以获得超高分辨率、高灵敏度(亚纳米)和宽动态范围。


近期法国PHASICS公司从法国商务部获悉,公司提交申请的高精度红外(3-5um &8-14um)/近红外(900-1700nm)波前传感器出口豁免申请已获得通过这就意味着客户采购SID4-DWIR红外(3-5um &8-14um)和SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器时无需再提供最终用户备案。


下面我们将为大家详细的介绍下这几款波前分析仪:


1. SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器


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图1 SID4-SWIR波前分析仪


SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器产品特点:

  • 高相位分辨率:160x128 or 80x64

  • 高重复度:<2nm RMS

  • 高测量精度:15nm RMS

  • 工作波段:900-1700nm

  • 高灵敏度:可适用于低功率红外光源测试

  • 瞬时相位测量,对振动不敏感

  • 可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷


2. SID4-DWIR红外(3-5um & 8-14um)波前分析仪


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图2 SID4-DWIR波前分析仪


SID4-DWIR红外(3-5um & 8-14um)波前分析仪产品特点:

  • 宽工作波段:3-5um & 8-14um

  • 高相位分辨率:160x120

  • 高重复度:25nm RMS

  • 高测量精度:75nm RMS

  • 对振动不敏感

  • 可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷

3. 近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统


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图3 Kaleo Kit红外测试模组



近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统产品特点:

  • 多波长:266nm, 355nm, 405nm,550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm,1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um

  • 大口径:Up to 5.1"(130mm)

  • 高重复度精度:<0.7nm RMS

  • 高测量精度:80nm PV

  • 对震动不敏感


测试案例:


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图4 非球面测试结果


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图5 平面测试结果


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图6 镜头透射波前测试结果


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图7 镜头MTF测试结果



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