<非接触式方阻成像仪EddyCus TF Map-上海昊量光电设备有限公司
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非接触式方阻成像仪EddyCus TF Map

简要描述:非接触式方阻成像仪EddyCus TF Map,综合分析功能支持生产和研发实验室中各种薄膜的系统质量保证。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-04-07
  • 访  问  量:5
详细介绍
品牌昊量光电价格区间面议
产地类别国产应用领域电子/电池,汽车及零部件,综合

非接触式方阻成像仪EddyCus TF Map


EddyCus TF Map 2530SR是一种非接触式薄层电阻映射系统。该设备配备了一个运动的涡流传感器,每次扫描可测量高达90000 (300 x 300)测量点的方块电阻。由于这种技术不需要与标本进行物理接触,该设备可以在飞行运动中进行测量。此外,非接触式单点方阻测试仪具有很高的准确性,因为它是独立于任何接触质量。非接触式薄膜方块电阻测量仪样品中测量点的高密度确保了没有遗漏任何效果或缺陷。此外,综合分析功能支持生产和研发实验室中各种薄膜的系统质量保证。



非接触式方阻成像仪EddyCus TF Map主要测试对象:

  • 镀膜建筑玻璃,如LowE

  • 显示器,触摸屏和平板显示器

  • OLED和LED

  • 智能玻璃

  • 石墨烯层

  • 光伏晶圆和电池

  • 半导体晶片

  • 金属化层和晶圆金属化

  • 电池电极

  • 导电涂布纸和导电纺织品


非接触式方阻成像仪的规格:

Measurement technologyNon-contact eddy current sensor
substratesWafer, glass, foils etc.
Max. scanning area12 inch / 300 mm x 300 mm (larger upon request)
Edge effect correction / exclusion2 – 10 mm (depending on size, range, setup and requirements)
Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 15 mm (defined by the thickest sample)
Thickness measurement of metal films (e.g. aluminum, copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance ())
Scanning pitch1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 mm (other upon request)
Measurement points per time (square shaped samples)100 measurement points in 0.5 minutes
10,000 measurement points in 3 minutes
Scanning time8 inch / 200 mm x 200 mm in 1 to 10 minutes (1 – 10 mm pitch)
12 inch / 300 mm x 300 mm in 2 to 6 minutes (2.5 – 25 mm pitch)
Device dimensions (w/h/d)31.5" x 19.1" x 33.5" / 785 mm x 486 mm x 850 mm
Weight90 kg
Further available featuresMetal thickness imaging, anisotropy and sheet resistance sensor





VLSRLSRMSRHSRVHSR

6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracy
Range [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 2,0001,000 – 200,000
Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%
Repeatability (2σ)< 0.5%< 1%< 0.5%
VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistance



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